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Produktbild Elektrik-Elektronik

E

GS 95024-2
Produktbild Materialtest

E 10.1 Center Conductor pull-out strength

LAH 4N0 035 K PG-10 (04) 7.1.8 Leiterausreißkraft
Produktbild Materialtest

E 12.2 Derating without housing

LAH 4N0 035 K PG-15 (08) 7.1.13 Elektrischer Stresstest (PG 15)1.13.1 Prüflinge (abweichend zur Prüfung
Produktbild Materialtest

E 12.2 Derating without housing

LAH 4N0 035 K PG-15 (13) 7.1.13 Elektrischer Stresstest (PG 15)1.13.1 Prüflinge (abweichend zur Prüfung
Produktbild Materialtest

E 13.1 Current excess temperature with housing

LAH 4N0 035 K PG-13 (03) 7.1.11 Gehäuseeinfluß auf das Derating (PG13)
Produktbild Materialtest

E 13.2 Derating with housing

LAH 4N0 035 K PG-13 (04) 7.1.11 Gehäuseeinfluß auf das Derating (PG13)
EMV_Versuch_Testing_EDAG Produktbild Materialtest

E 14.1 Thermal time constant

LAH 4N0 035 K PG-14 (03) 7.1.12 Thermische Zeitkonstante (Stromübertemperatur bei n-fachem Nennstrom) (PG 14)
Produktbild Materialtest

E 29.1 Theoretical determination of the internal pressure p0

LAH 4N0 035 K PG-29 (02) 7.1.23 Haltekraft der Blindstopfen (PG29)
Produktbild Materialtest

E 29.2 TDetermination of the retention force of the blind plugs pmax

LAH 4N0 035 K PG-29 (05) 7.1.23 Haltekraft der Blindstopfen (PG29)
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 5.1 Contact opening dimension (inner and outer contact)

Test Spezifikation 109-18379 PG15 (04) PG 15
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 5.1 Contact opening dimension (inner and outer contact)

Test Spezifikation 109-18379 PG15 (14) PG 15
Produktbild Materialtest

E 6.2 Function of the primary lock/latch play

LAH 4N0 035 K PG-06 (04) 7.1.5 Wechselwirkung zwischen Kontakt und Gehäuse (PG6)
Produktbild Materialtest

E 6.3 Function of the secondary lock/latch play

LAH 4N0 035 K PG-06 (05) 7.1.5 Wechselwirkung zwischen Kontakt und Gehäuse (PG6)
Produktbild Materialtest

E 6.5 Detection of secondary lock by test adapter

LAH 4N0 035 K PG-06 (10) 7.1.5 Wechselwirkung zwischen Kontakt und Gehäuse (PG6)
Produktbild Materialtest

E 7.2 Retention force of the housing latch/lock (unequipped housings)

LAH 4N0 035 K PG-07 (04) 7.1.6 Handhabung und Funktionssicherheit der Kodiergehäuse (PG 7)
Produktbild Materialtest

E 7.4 Insertion force or actuation force for insertion and removal aids

LAH 4N0 035 K PG-07 (05) 7.1.6 Handhabung und Funktionssicherheit der Kodiergehäuse (PG 7)
Produktbild Materialtest

E 8.1 Determination of the contact insertion forces

LAH 4N0 035 K PG-08 (03) 7.1.7 Einsteck- und Haltekräfte der Außenleiterkontaktteile im Gehäuse
EMV_Versuch_Testing_EDAG Produktbild Materialtest

E 9.2 Insertion Inclination

LAH 4N0 035 K PG-09 (01) Schrägsteckwinkel / Missbrauchsicher (Kojiri-Sicherheit)
EMV_Versuch_Testing_EDAG Produktbild Materialtest

E 9.3 Misuse Safe (Scoop-proofing)

LAH 4N0 035 K PG-09 (02) Schrägsteckwinkel / Missbrauchsicher (Kojiri-Sicherheit)
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