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E 10.1 Innenleiterausreißkraft

LAH 4N0 035 K PG-10 (04) 7.1.8 Leiterausreißkraft
Produktbild Materialtest

E 12.2 Derating ohne Gehäuse

LAH 4N0 035 K PG-15 (08) 7.1.13 Elektrischer Stresstest (PG 15)1.13.1 Prüflinge (abweichend zur Prüfung
Produktbild Materialtest

E 12.2 Derating ohne Gehäuse

LAH 4N0 035 K PG-15 (13) 7.1.13 Elektrischer Stresstest (PG 15)1.13.1 Prüflinge (abweichend zur Prüfung
Produktbild Materialtest

E 13.1 Stromübertemperatur mit Gehäuse

LAH 4N0 035 K PG-13 (03) 7.1.11 Gehäuseeinfluß auf das Derating (PG13)
Produktbild Materialtest

E 13.2 Derating mit Gehäuse

LAH 4N0 035 K PG-13 (04) 7.1.11 Gehäuseeinfluß auf das Derating (PG13)
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 14.0 Durchgangswiderstand

LAH 4N0 035 K PG-15 (09) 7.1.13 Elektrischer Stresstest (PG 15)1.13.1 Prüflinge (abweichend zur Prüfung
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 14.0 Durchgangswiderstand

LAH 4N0 035 K PG-15 (11) 7.1.13 Elektrischer Stresstest (PG 15)1.13.1 Prüflinge (abweichend zur Prüfung
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 14.0 Durchgangswiderstand

LAH 4N0 035 K PG-17 (10.1) 7.1.14 Dynamische Beanspruchungen (PG 17)
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 14.0 Durchgangswiderstand

LAH 4N0 035 K PG-17-S2 (10.1) 7.1.14 Dynamische Beanspruchungen (PG 17-S2)
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 14.0 Durchgangswiderstand

LAH 4N0 035 K PG-17-S2 (11.1) 7.1.14 Dynamische Beanspruchungen (PG 17-S2)
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 14.0 Durchgangswiderstand

LAH 4N0 035 K Z-2 (11.1) 7.2.2 Robustheitsprüfung / Schrägzug (Z2)
EMV_Versuch_Testing_EDAG Produktbild Materialtest

E 14.1 Thermische Zeitkonstante

LAH 4N0 035 K PG-14 (03) 7.1.12 Thermische Zeitkonstante (Stromübertemperatur bei n-fachem Nennstrom) (PG 14)
Produktbild Materialtest

E 29.1 theoretische Ermittlung des Innendrucks p0

LAH 4N0 035 K PG-29 (02) 7.1.23 Haltekraft der Blindstopfen (PG29)
Produktbild Materialtest

E 29.2 Ermittlung der Haltekraft der Blindstopfen pmax

LAH 4N0 035 K PG-29 (05) 7.1.23 Haltekraft der Blindstopfen (PG29)
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 5.1 Kontaktöffnungsmaß (Innen- und Außenkontakt)

Test Spezifikation 109-18379 PG15 (04) PG 15
Produktbild Elektrik-Elektronik

E 5.1 Kontaktöffnungsmaß (Innen- und Außenkontakt)

Test Spezifikation 109-18379 PG15 (14) PG 15
EMV_Versuch_Testing_EDAG Produktbild Elektrik-Elektronik
Produktbild Materialtest

E 6.2 Funktion der Primärverriegelung / Rastspiel

LAH 4N0 035 K PG-06 (04) 7.1.5 Wechselwirkung zwischen Kontakt und Gehäuse (PG6)
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E 6.3 Funktion der Sekundärverriegelung / Rastspiel

LAH 4N0 035 K PG-06 (05) 7.1.5 Wechselwirkung zwischen Kontakt und Gehäuse (PG6)
Produktbild Materialtest

E 6.5 Erkennung Sekundärverriegelung durch Prüfadapter

LAH 4N0 035 K PG-06 (10) 7.1.5 Wechselwirkung zwischen Kontakt und Gehäuse (PG6)
Produktbild Materialtest

E 7.1 Unverwechselbarkeit der Gehäusee

LAH 4N0 035 K PG-07 (03) 7.1.6 Handhabung und Funktionssicherheit der Kodiergehäuse (PG 7)
Produktbild Materialtest

E 7.2 Haltekraft der Gehäuseverrastung / Gehäuseverriegelung (unbestückte Gehäuse)

LAH 4N0 035 K PG-07 (04) 7.1.6 Handhabung und Funktionssicherheit der Kodiergehäuse (PG 7)
Produktbild Materialtest

E 7.4 Steckkraft bzw. Betätgigungskraft bei Steckhilfen

LAH 4N0 035 K PG-07 (05) 7.1.6 Handhabung und Funktionssicherheit der Kodiergehäuse (PG 7)
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